خدمات آنالیز RAMAN

یکروسکوپ نیروی اتمی ((AFM=Atomic Force Microscope جزء جدیدترین دستاوردهای دانشمندان در زمینه اندازه‌گیری در ابعاد و مقیاس نانو است که در سال 1989 توسط جرد […]

XRD یا همان پراش اشعه ایکس (X-Ray Diffraction) تکنیکی قدیمی و پرکاربرد در بررسی خصوصیات کریستال‌ها می‌باشد. پراش اشعه ایکس برای تعیین عموم کمیات ساختار […]

طیف سنجي مادون قرمز بر اساس جذب تابش مادون قرمز و بررسي جهش­هاي ارتعاشي مولکول­ها و يون‌هاي چند اتمي صورت مي‌گیرد. جذب تابش مادون قرمز […]

روش‌های مختلفی جهت اندازه‌گیری مساحت سطح و تخلخل، مورد توجه قرار گرفته است که می‌توان به روش‌های میکروسکوپی و روش‌های مبتنی بر جذب اشاره نمود. […]